Готовые ???????? ??????

Курсовая работа  Вторично-ионная масс-спектрометрия

Содержание:

Введение Взаимодействие ионов с веществом Вторично-ионная эмиссия Оборудование ВИМС. Принцип действия установок.
Установки, не обеспечивающие анализа распределения частиц по поверхности
Установки, позволяющие получать сведения о распределении
элемента по поверхности, со сканирующим ионным зондом
Установки с прямым изображением Порог чувствительности Анализ следов элементов
Ионное изображение Требования к первичному ионному пучку Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц
Количественный анализ Глубинные профили концентрации элементов Приборные факторы, влияющие на разрешение
по глубине при измерении профилей концентрации
Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение
по глубине при измерении профилей концентрации
применения Исследование поверхности Глубинные профили концентрации
Распределение частиц по поверхности, микроанализ и объемный анализ
Заключение
Список литературы

Курсовая работа  Вторично-ионная масс-спектрометрия