Диплом Автоматизированный тестор параметров радиоэлементов - управление и контроль по разным дисциплинам | Диплом Шоп | diplomshop.ru
ДИПЛОМ ШОП
Готовые дипломы и дипломы на заказ

Библиотека

Как купитьЗаказатьСкидкиПродатьВакансииКонтактыНаши партнёрыВойти

Банк готовых рефератов, курсовых и дипломных работ / Разное / Диплом Автоматизированный тестор параметров радиоэлементов - управление и контроль

ИнформацияЕсли вы не нашли нужную вам работу, воспользуйтесь системой поиска работ

Диплом Автоматизированный тестор параметров радиоэлементов - управление и контроль

Предмет:Разное.
Цена:150 руб.
Работа доступна сразу после оплаты.

Содержание:

Введение
1. Анализ технического задания
2. Математические модели радиоэлектронных элементов
2.1. Формальная модель многополюсного радиоэлемента
2.2. Структура ФММР
2.3. Базовый узел ФММР
2.4. Структура элементной базы
2.5. Модели РЭ для САПР электронных схем
3. Тестер для измерения параметров радиоэлектронных элементов
3.1. Методика измерения
3.2. Структурная схема тестера
3.3. Устройство интерфейса
3.4. Измерительно-контрольное устройство
3.5. Измерительные головки
4. Расчётная часть
4.1. Расчет площади и габаритов материнской платы
4.2. Расчёт теплового режима блока
4.3. Расчет надёжности блока
5. Технологическая часть
5.1. Качественный анализ конструкции
5.2. Проектирование технологического процесса сборки печатной платы
5.3. Определение количественных показателей технологичности конструкции разрабатываемой материнской платы
Заключение
Литература

Введение

Включение электронных вычислительных машин (ЭВМ) в цикл проек-тирования радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) выдвинуло на передний план задачи математического описания радиоэлементов (РЭ), составляющих эти РЭА, так как достоверность машинных расчетов параметров РЭА опре-деляется, в первую очередь, достоверностью описания параметров РЭ. Ком-плексный характер работ в области моделирования РЭА наиболее полно сформулирован Логаном /1/, который связал неудачные попытки использо-вания систем автоматизированного проектирования электронной аппаратуры (САПР РЭА) с системным подходом. Такой подход включает:
− разработку математических моделей радиоэлементов;
− проверку адекватности путем сравнения результатов, с характе-ристиками реализованных устройств радиоэлементов САПР РЭА;
− определение и описание технологических разбросов;
− оценку влияния изменений окружающей среды (температура, влажность, механические воздействия, радиация и т.п.);
− исследование эффектов старения с точки зрения надежности.
Если же при тщательном исследовании пренебрегают хотя бы одним из выше перечисленных аспектов с целью упрощения модели РЭА, то ре-зультат моделирования может быть сведён на нет. Например, при оптимиза-ции без учёта климатических факторов или статических параметров.
Исторически потребность математического описания РЭА возникла одновременно с применением РЭА. Современные требования к описанию РЭА отличаются только в существенном повышении требований к адекват-ности моделей, что связано, в первую очередь, с усложнением функциональ-ного назначения и структуры РЭА.
Относительно простые по структуре РЭА и составляющие их РЭ по-зволяли разработчикам после несложных расчетов проверять результаты по-средством натурного макетирования. Это привело к тому, что описание мо-делей РЭ было также ориентировано на корректировку их параметров в про-цессе проектирования РЭА. При необходимости простые модели и процессе проектирования усложнялись, если в этом возникала такая потребность.
Усложнение РЭА, связанное с применением полупроводниковых эле-ментов (ПЭ), особенно с началом развития микроэлектронных радиоэлемен-тов (МРЭ), привело, во-первых, к повышению требований к описанию РЭ и МРЭ, во-вторых, к глобальному усложнению РЭА, в-третьих, к резкому ог-раничению, вплоть до полного исключения натурного макетирования.
Развитие ЭВМ и измерительной техники, широкое внедрение персо-нальных компьютеров (ПК), открыло качественно новые возможности в об-ласти САПР РЭА, в том числе и области моделирования РЭ и МРЭ. В прак-тику внедрены:
− мощные методы САПР РЭА, например система Pspice /2/;
− модели РЭ и МРЭ, позволяющие производить адекватное описа-ние характеристик реальных устройств;
− автоматизированные технические средства измерения (АТСИ) на базе ПК, применение которых позволяет идентифицировать параметры мо-дели РЭА в ограниченное время с требуемой точностью.
Анализ как структуры принятых моделей РЭ и МРЭ, так и принятых методов измерения их параметров приходит к следующим выводам:
− повышение точности связано с усложнением структуры моделей, что в большинстве случаев для их эффективного практического использова-ния приводит к их усечению (упрощению), например, модель биполярного транзистора, содержащая до 59 компонентов (модель Гуммеля-Пунна) уп-рощается до 12 компонентов (классическая модель Эберса-Молла);
− возникают естественные трудности аттестации сложных моделей (увеличение числа параметров приводит к увеличению времени и расходов на моделирование).
Разработчики САПР РЭА PSpice чётко представляют эти проблемы. В этой связи в системе PSpice предусмотрено применение проблемно ориенти-рованных макромоделей. Эти модели, в том числе и транзистора, по жела-нию пользователя, путём ограничения области определения параметров по режиму электропитания, по постоянному току, частотному диапазону, тем-пературе и другим условиям позволяют в конечном итоге повысить эффек-тивность проектирования за счёт, во-первых, уменьшения числа параметров, во-вторых, резкого снижения количества расчётных операций, выполняемых в процессе расчета РЭА. Так, при использовании в PSpice встроенной мало-сигнальной модели биполярного транзистора (БТ) число необходимых пара-метров находится в пределах от 29 (модель Эберса-Молла в версии Логана) до 59 (модель Гуммеля-Пунна), тогда как использование в фиксированном режиме электропитания по постоянному току и ограниченном диапазоне частот макромодель БТ на основе Y- матрицы будет содержать 8Nj вещест-венных параметров, где Nj - число аттестуемых частотных точек. При этом определение параметров БТ на текущей частоте производится посредством элементарных вычислительных операций.
Если макромодель БТ определена по данным встроенной глобальной модели БТ, то её точность будет определена точностью исходной модели. Использование косвенных методов идентификации параметров встроенной модели неизбежно приводит к снижению точности моделирования.
Задачу по повышению точности моделирования можно решить, на-пример, путём использования прямых методов применения Y- матрицы транзистора. Современные измерительные приборы позволяют реализовать данные измерения только в первом приближении, так прямое измерение малосигнальных параметров "чёрного ящика" производят, как правило, в коаксиальном тракте с волновым сопротивлением 50 Ом. неизбежны существенные погрешности измерения параметров компонентов значительно отличаются от 50 Ом.
Основными препятствиями для осуществления эффективного измере-ния параметров малосигнальных макромоделей являются:
− необходимость выполнения сложных с технической точки зре-ния операций по согласованию измерительных цепей на предмет отсутствия отражённых волн;
− ошибки, связанные с использованием направленных ответвите-лей, которые нужно рассматривать как дополнительные неоднородности из-мерительного тракта, причём частотно-зависимые.
Недостатками применяемых измерительных приборов также является противоречия, связанные с внедрением классических "ручных" методов из-мерения в практику автоматизированных измерений. Эта проблема может быть решена путём разработки и внедрения алгоритмических машинно-ориентированных методов измерения.
В организационно-экономической части рассмотрены вопросы опре-деления трудоёмкости ОКР, договорной цены темы; проведено технико-экономическое обоснование новой конструкции; рассчитана точка безубы-точного объёма.
В разделе безопасности жизнедеятельности рассмотрены требования к помещениям, в которых ведётся работа на персональных компьютерах (ПК); вопросы безопасности при непосредственной работе на ПК; уделено внима-ние вопросам электробезопасности и пожарной безопасности.
Авторами были непосредственно написаны следующие пункты и под-пункты:
Маликовым А.Н. - п.1; п.п.2.1; п.п.2.2; п.п.2.2; п.п.2.3; п.п.3.4.1; п.п.3.4.2;
п.п.3.4.3; п.п.3.5; п.п.4.1; п.п.4.2; п.п.5.2; п.п.6.2.7; п.п.6.2.8;
п.п.6.2.9; п.п.6.2.10; п.п.6.2.11; п.п.6.2.12; п.п.6.2.13;
п.п.6.3; п.п.7.1; п.п.7.3; п.п.7.4; п.п.7.5; п.п.8.1;
Казьминым Д.Ю. - п.1; п.п.2.4; п.п.2.5.1; п.п.2.5.2; п.п.2.5.3; п.п.3.1.1;
п.п.3.1.2; п.п.3.2; п.п.3.3; п.п.4.3; п.п.5.1; п.п.6.1.1; п.п.6.1.2;
п.п.6.1.3; п.п.6.2.1; п.п.6.2.2; п.п.6.2.3; п.п.6.2.4; п.п.6.2.5;
п.п.6.2.6; п.п.7.2.1; п.п.7.2.2; п.п.7.2.3; п.п.7.2.4; п.п.8.2;

Диплом Автоматизированный тестор параметров радиоэлементов - управление и контроль

Цена: 150 руб.


  Работа будет доступна сразу после оплаты!


 


Поиск работ


нам 10 лет

Услуги

Информация